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    DENSsolutions原位新技術亮相2020年電子顯微學學術年會

    發布日期: 2020-11-26
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        2020年電子顯微學學術年會于11月21-25日在成都市新希望高新皇冠假日酒店隆重召開。大會為期三天,吸引了來自高校院所、企事業單位等電子顯微鏡學領域專家學者千余人出席。為慶祝中國電鏡學會成立四十周年,本屆年會的主題是“顯微學激發新希望”,本屆年會設立了顯微學理論、技術與儀器發展,原位電子顯微學表征,功能材料的微結構表征,結構材料及缺陷、界面、表面,相變與擴散,先進顯微分析技術在工業材料中的應用,掃描探針顯微學分會場(STM/AFM等),掃描電子顯微學(EBSD),低溫電子顯微學表征分會場,生命科學顯微成像技術研究分會場,中國電子顯微鏡運行管理開放共享實驗平臺分會場等十個分會場。

     

        大會開幕式由中國電子顯微鏡學會理事長韓曉東主持,中國科學院院士、大會主席張澤和中國工程院院士姚駿恩分別致辭。開幕式上,國家納米中心特聘研究員甘雅玲代表全體會員祝賀了中國電子顯微鏡學會成立四十周年。會議特邀中國科學院院士朱靜、中國科學院院士葉恒強、中國科學院院士張澤、中國科學院院士隋森芳、中國科學院院士薛其坤五位院士攜12位國內外著名專家學者依次為大家呈現精彩大會報告。

        本屆年會還設立了youxiu青年學者獎、youxiuPoster獎、會議論文獎以及第十一屆電子顯微學攝影大賽獎、報告獎,并為葉恒強先生頒發中國電子顯微學終身成就獎。

     

        原位技術解決方案DENSsolutions中國區總代理奧達科學有限公司攜透射電鏡原位樣品系統亮相“2020電子顯微學學術年會”,并再次贊助原位分會場。我司高級應用工程師姜超做了原位分會報告,介紹了原位技術及應用場景新進展。包括:FIB樣品臺3.0、原位FIB/SEM樣品臺、高頻升級方案、新一代EDS升級方案、原位氣體加熱蒸汽升級方案、原位時間分辨質譜儀、多合一數據同步收集軟件平臺等等。

     

        這么多原位新技術,您是不是也很心動呢?不要心急,這些都將陸續在2021年跟大家見面,您期待哪一個新技術呢?可在下方留言,聯系我們了解原位技術解決方案新進展!

        2020年注定是不平凡的一年,奧達科學有限公司一直致力于為高知客戶提供高附加值的服務以促進中國的科技發展。讓我們期待明年再重逢!

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