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    原位加熱加電TKD 樣品臺

    產品型號: 更新時間: 2022-04-01
    DENSsolutions TKD 樣品臺可以讓用戶在掃描電子顯微鏡 (SEM) 或聚焦離子束 (FIB) 內進行原位加熱和/或電學實驗。

    產品概述

    DENSsolutions TKD 樣品臺可以讓用戶在掃描電子顯微鏡 (SEM) 或聚焦離子束 (FIB) 內進行原位加

    熱和/或電學實驗。

    該平臺允許 SEM 和 FIB 用戶使用 TKD(同軸/離軸)或傳統 EBSD 技術進行原位微結構表征。 特別

    是對于 TEM 用戶,該平臺允許用戶在 SEM 內進行相對快速的初步原位樣品表征,以便為進一步的

    TEM 實驗開發工作流程,從而節省寶貴的 TEM 時間。

    技術參數:

    1.       *電極數:8電極(可同時加熱和加電)

    2.       *金屬加熱絲,非陶瓷材料,升溫降溫速度快,即是熱導材料,又是熱敏材料,其電阻與溫度有良好的線性關系。金屬加熱絲是被SiN包裹,不與樣品發生反應。

    3.       *溫度范圍:高溫芯片:室溫到1100℃,超高溫芯片:室溫到 1300℃,熱電一體芯片:室溫到 900℃。

    4.       *溫度穩定性:加熱到 1300℃時,只有 < 0.01℃的溫度變化

    5.       *加熱控制方式:四電極法閉合回路控制和反饋環境溫度

    6.       *最高電場:300kV/cm(室溫-900℃)

    7.       *最高工作電壓: 150V(室溫-900℃)

    8.       最小的檢測電流:pA范圍

    9.      溫度精確度:≥95%

    10.    溫度均勻度:≥99.5%

    兼容性:

    SEM/FIB 設備探測器

    • Zeiss Ultra and Gemini

    • FEI (TF)* Nove NanoSem 600

    (ESEM) & Helios G4 plasma FIB

    • JEOL 4600

    *可能需要樣品臺適配器

    探測器

    • Bruker Optimus On-axis TKD探測器

    • Oxford Symmetry EBSD探測器


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