原位技術自1933第一臺電子顯微鏡的誕生之日起的第三年就開始被科學家們所應用,但是...
掃描電鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用...
掃描電鏡的功能很多,不同的功能對樣品的要求不同。例如二次電子像與背散射電子像和吸...
掃描電鏡是失效機理分析的重要手段,二次電子成像可以直接觀察斷裂類型和斷裂源。從(...
AltaScientific,Inc.hassignedexclusivedis...
電學樣品臺可用于材料表面形貌分析,微區形貌觀察,各種材料形狀、大小、表面、斷面、...